- 锂电池通用测试仪器
X 射线衍射仪
X 射线衍射仪
Rigaku Ultima IV
产品概述
在测试分析日趋全面自动化的今日,如何在进行多种样品分析时,缩短光学系统切换时间,将烦琐的程序最简化,是X射线分析工作者所面临的最大课题。希望选择与分析目的最适合的光学系统和分析方法。但是,切换光学系统既费时又费事。这种理想与现实的差距影响了用户的科研工作。如何使光学系统切换和调整工作简单化,如何缩短光学系统的切换时间,成为我们新的课题。
如果能够实现光学系统调整自动化……
理学公司推出的Utima IV产品,力求达到操作最简化,实现全部系统的自动调整。从X射线源到光学元件、测角仪、样品台以及检测器等全部系统都可以自动调整。无论是装机时的全部系统调试,还是日常进行的样品位置调整,使用理学公司推出的自动调整程序大幅缩短简化了切换光学系统所需的时问和程序,为科研工作者提高效率作出贡献。
产品用途
该仪器利用X射线分析普粉末,固体样品的物相结构信息测试。
工作原理
技术指标
1.X射线发生器
- 输出功率:3KW,管电流、管电压的启动、关闭、调节,均由计算机控制;
- 稳定度:±0.01%(电流、电压波动±10%);
- 电磁快门,无需空压机;
- 安全机构:检测冷却水异常(水量、水温、水压)、检测XG超负荷异常;检测管电压HIGH、LOW异常;配备紧急停止开关、配备漏电断路器;
2.X射线管
- 靶材:铜靶;
- 光管尺寸:标准尺寸;
- 最大功率:2.2KW;
3.测角仪
- 扫描方式:θ/θ测角仪,样品水平放置,θs、θd可联动或单动;
- 角度重现性:±0.0001°;
- 测角仪半径:185mm;
- 最小可控步长:0.0001°;
- 扫描范围:-3~+154°;
4.探测器
- 类型:一维硅阵列半导体探测器;
- 有效探测器面积:256mm2;
- 像素分辨率:100μm;
- 最大计数:>1×10E8cps;
- 背景:0.1cps。
5.狭缝系统
- 配置入射/防散射/接收狭缝;
- 配置入射和接收侧索拉狭缝;
- 配置限高狭缝:10mm,5mm和2mm;
6.样品台
- 0.5mm深常量石英玻璃样品架:20片;
- 0.2mm深微量石英玻璃样品架:20片;
- 铝制中空块体样品架:20片;
9 .设备控制器与软件系统
- 控制系统配置:I5处理器,WIN10英文专业正版操作系统,8G内存,1T硬盘,集成显卡,8倍速可刻录驱,27”显示器,网卡。
- 运行在Windows 10 环境下仪器控制和分析软件,满足数据采集,数据处理,分峰拟合,图形处理等功能;
- 分析功能包含以下:
a. 数据处理:背景、平滑、扣除 Ka2、寻峰、积分等;
b. 物相检索:含原始数据直接检索功能;单峰和多峰检索等;
c. 物相定量分析:RIR、结晶度、无标样定量分析等;
d. 晶粒尺寸、晶格畸变、应力等;
- 提供最新正版数据库;
10.水冷系统
- 分体式循环水冷系统,稳定性能好,具有过热保护系统;
- 工作要求:连续工作;
- 控温精度:配置温控系统,温度调节优于±3℃;
- 供水流量:满足发生器工作要求。
11.原位电池附件
- 电池极数:正极和负极;
- 窗口:Be箔或Al箔或Cu箔;
- 2θ测量范围:不少于5°~75°;
12.十位自动进样器(选配)
- 进样方式:转盘式;
- 样品位数:十位;
- 支持旋转功能;
技术特点
1. CBO、自动调整及灵活的模式组合——适用于多种应用,实现方便快捷的光学系统切换。
2. CBO技术具有高度灵活性——应用于所有粉末•多晶材料评价。
3. 样品位置自动调整和In-plane测试相组合——高分辦率的应力•选择取向测试简便化。
4. CBO和无需变更系统的In-Plane 扫描——实现最强的薄膜评价系统。
5. 理学公司新开发的 In-situ 附件——可以在特殊条件下测试。
6. 利用CBO和自动调整装置——仅添加附件即可对应纳米材料的小角散射测试示例。
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